1. 在不同設備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區(qū)域

2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數，調整像散聚焦

3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的問題，確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。

 

01 關聯(lián)定位分析

 蔡司Connect模塊輕松實現(xiàn)光學顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現(xiàn)樣品在不同設備間的重新定位，還能統(tǒng)一管理關聯(lián)設備的數據和信息

 ? 關聯(lián)定位：通過關聯(lián)樣品臺實現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設備之間自動關聯(lián)重定位，大幅縮減操作用時

? 數據疊加：自由疊加來自手機，光學顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關能譜信息

? 統(tǒng)一管理：管理來自不同關聯(lián)設備的數據，輸出不同信息疊加圖像和視頻

 

▲ PCB電路板的關聯(lián)顯微分析（光鏡，電鏡，能譜信息），左：宏觀圖像；右：感興趣位置局部放大

 

▲芯片關聯(lián)顯微分析視頻（光鏡，共聚焦，電鏡）

 

02 自動成像 

蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數設置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像

 ? 向導式操作流程，界面簡潔，操作簡單

? 根據樣品智能匹配成像參數，實現(xiàn)自動聚焦

? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接

 

▲簡潔的SmartSEM Touch操作界面

 

03 量化分析

蔡司ZEN模塊實現(xiàn)從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程

? 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向導式的分析工作流程，毫無經驗的新手也可輕松掌握

? 基于機器學習的ZEN Intellesis模塊輕松實現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達成的圖像處理需求

? 豐富的測量功能，如顆粒統(tǒng)計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等

 

▲量化分析界面-二值化分割

 

▲金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析

 

▲滿足多種測量需求——高級測量               ▲顆粒分析                              ▲晶粒度評級                  

                      ▲含量百分比                                ▲層厚測量                                  ▲孔隙率分析